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2016-11-30 | 前沿

Varioscale公司发现微电路成像可用于集成电路的工艺确认

【据militaryaerospace网站2016年11月29日报道】美国空军研究实验室宣布,本月初已授予Varioscale公司一份价值2380万美元的快速分析多种新兴纳米电子学((RAVEN)项目,致力于开发一种能够对硅集成电路芯片上最小尺寸的电路特征进行成像的分析工具,用于工艺确认和故障分析。

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